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你知道电子元器件有哪些可靠性的检测项目吗?

发布时间:2021-03-30 15:15:09 阅读数:()

一、物理性能测试项目。


1.内部水蒸气:确定包装在金属或陶瓷中的光电器件内部气体中的水蒸气含量。


2.密封性能:确定光电子器件内腔的气密性。


3.ESD阔值:确定光电器件因静电放电而损坏和退化的灵敏度和敏感性。


4.可燃性:确定光电器件所用材质的可燃性。


5.剪切力:确定光电器件芯片和无源器件安装在管座或其他基板上的材质和工艺的完整性。


6.可焊性:确定需要焊接的光电器件导线(直径小于30175毫米的导线和截面积相当的扁平导线)的可焊性。


7.引线键合强度:确定光电器件使用的低温焊接、热压焊接、超声波焊接等技术的强度



二、机械完整性测试项目。


1.机械冲击:确定光电器件能否适用于需要中等严重冲击的电子设备。冲击可能是装卸、运输或现场使用过程中突然受力或剧烈振动造成的。


2.变频振动:确定在标准频率范围内振动对光电器件各部件的影响。


3.热冲击:确定光电器件在温度剧变时的抵抗力和功能。


4.插拔耐久性:确定光电器件光纤连接器的插拔,光功率、损耗、反射等参数能否符合重复要求。


5.储存试验:确定光电器件能否在高低温下运输和储存。


6.温度循环:确定光电器件承受极高温度和极低温度的能力,包括极高温度和极低温度交替变化对光电器件的影响。


7.恒湿热:确定密封和非密封光电器件能否一起承受规定的温度和湿度。


8.高温寿命:确定光电器件的高温加速老化故障机理和工作寿命。


三、加速老化试验。


光电器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流,加速老化。根据测试结果,判断光电器件具有的功能和丧失的功能,包括接收和拒绝,并可以调整光电器件的工作条件,计算可靠性。


1.高温加速老化:加速老化过程中最基本的环境应力高温。在实验过程中,应按期监测所选参数,直至退化超过使用寿命。


2.恒温试验:恒温试验类似于高温运行试验,应规定恒温试验样品的数量和允许失效的数量。


3.变温试验:变温高温加速老化试验是按期逐步升温(如60℃、85℃、100℃)


4.温度循环:除了环境应力测试,光电器件还需要进行温度循环,温度循环能加速管道电子器件的老化。加速温度循环的目的一般不是引起特定性能参数的退化,而是为组件中的光路提供长期机械稳定性的附加描述。


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